極片電阻測(cè)試儀-是一款專為電池極片、導(dǎo)電薄膜、柔性電子材料等設(shè)計(jì)的精密電阻測(cè)量設(shè)備，可滿足研發(fā)和質(zhì)量控制中對(duì)材料導(dǎo)電性能的精確測(cè)量需求。

極片電阻測(cè)試儀

GCJPD-I

產(chǎn)品概述：

極片電阻測(cè)試儀-電池極片中，影響電導(dǎo)率的主要因素包括箔基材與涂層的結(jié)合界面情況，導(dǎo)電劑分布狀態(tài)，顆粒之間的接觸狀態(tài)等；通過電池極片的電導(dǎo)率能夠判斷極片電阻中微觀結(jié)構(gòu)的均勻性，預(yù)測(cè)電池的性能。同時(shí)鋰離子電池極片電阻是影響電池內(nèi)阻、電壓以及自動(dòng)放電率的重要因素。

目前測(cè)試極片電阻的方法有四探針法和兩探針法，四探針法和兩探針法都無法對(duì)被測(cè)物體表面施加壓力，且極片的表面涂層由顆粒組成，與探針的接觸面積小，只測(cè)量了電阻兩端的電壓值和電流值，故探針無法全面表征極片電阻。

無論是四探針法還是兩探針法都只能表征表面薄層的電阻（即只能用于測(cè)量被測(cè)物表面的薄層電阻），對(duì)于較厚且存在成分梯度電池涂層無法全面表征極片的電阻值，另外，它也不能測(cè)試真實(shí)極片中涂層與基材之間的接觸電阻。四探針測(cè)試法僅測(cè)量非導(dǎo)電基材極片，且與測(cè)試極片接觸點(diǎn)面積小，極片顆粒大，數(shù)據(jù)無參考意義。

本公司所研發(fā)可以對(duì)電池極片施加可變壓力，可對(duì)壓力值、極片電阻值和厚度變化值進(jìn)行即時(shí)測(cè)量，并建立二次電池極片的受壓、延展與電阻的變化關(guān)系

通過對(duì)極片施加不同壓強(qiáng)，可以使極片表面的涂層顆粒產(chǎn)生不同程度的形變，從而改變極片的導(dǎo)電性能。通過測(cè)量數(shù)據(jù)可以分析不同壓強(qiáng)下極片的阻值特性，從而對(duì)改良極片提供數(shù)據(jù)參考。

本儀器測(cè)試極片電阻阻值時(shí)，電流從極片電阻的端面穿過，使得對(duì)極片電阻電阻測(cè)量更加精確。